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Invariant features from series of images to detect and classify varnish defects

Puente León, F.; Pérez Grassi, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-7270-8
ISSN: 1864-6379
KITopen ID: 1000019452
Erschienen in Reports on distributed measurement systems. Ed.: F. Puente-León
Verlag Shaker, Aachen
Seiten 53 - 67
Serie Berichte über verteilte Messsysteme ; 3
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