Invariant features from series of images to detect and classify varnish defects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-8322-7270-8 ISSN: 1864-6379 KITopen-ID: 1000019452 |
| Erschienen in | Reports on distributed measurement systems. Ed.: F. Puente-León |
| Verlag | Shaker Verlag |
| Seiten | 53 - 67 |
| Serie | Berichte über verteilte Messsysteme ; 3 |