Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-86644-562-8 urn:nbn:de:0072-197207 KITopen-ID: 1000019720 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XVI, 330 S. |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
Institut | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
Prüfungsdaten | 20.07.2010 |
Schlagwörter | Produktfamilie, Test, Absicherung, Lebenszyklus, Automobil |
Referent/Betreuer | Müller-Glaser, K. |