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Impact of genetic defects on the electrical properties of the heterogeneous ventricular wall

Dössel, O.; Weiß, D. L.; Seemann, G.; Sachse, F. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Biomedizinische Technik (IBT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000019816
Erschienen in Proceedings of the 346. WE-Heraeus-Seminar, Cardiovascular Physics - Model Based Data Analysis of Heart Rhythm, 9-11 May 2005, Physikzentrum Bad Honnef (Germany)
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