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Annealing effects on structural and dielectric properties of tunable BZT thin films

Ivers-Tiffée, E.; Xu, J.; Menesklou, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1385-3449
KITopen ID: 1000020236
Erschienen in Journal of Electroceramics
Band 13
Heft 1-3
Seiten 229 - 233
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