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Long term measurements and first analytic modelling approach for electrical properties of new niobium capacitors

Ivers-Tiffée, E.; Fischer, V.; Heneka, M. J.; Weber, A.; Krügel, A.; Stenzel, M.; Zillgen, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-88355-314-X
KITopen ID: 1000020303
Erschienen in Proceedings / Materials Week 2002; 1 CD-Rom
Verlag Werkstoff-Informationsges., Frankfurt/Main
Seiten 1
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