Long term measurements and first analytic modelling approach for electrical properties of new niobium capacitors
Ivers-Tiffée, E.; Fischer, V.; Heneka, M. J.; Weber, A.
; Krügel, A.; Stenzel, M.; Zillgen, H.
; Krügel, A.; Stenzel, M.; Zillgen, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 3-88355-314-X KITopen-ID: 1000020303 |
| Erschienen in | Proceedings / Materials Week 2002; 1 CD-Rom |
| Verlag | Werkstoff-Informationsges. |
| Seiten | 1 |