KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Investigation of thick films for tunable microwave devices

Ivers-Tiffée, E.; Voigts, M.; Zimmermann, F.; Xu, J.; Menesklou, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-88355-314-X
KITopen-ID: 1000020311
Erschienen in Proceedings / Materials Week 2002; 1 CD-Rom
Verlag Werkstoff-Informationsges.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page