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Investigation of thick films for tunable microwave devices

Ivers-Tiffée, E.; Voigts, M.; Zimmermann, F.; Xu, J.; Menesklou, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-88355-314-X
KITopen ID: 1000020311
Erschienen in Proceedings / Materials Week 2002; 1 CD-Rom
Verlag Werkstoff-Informationsges., Frankfurt/Main
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