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Simulation of load displacement in parallel lines using series connected tapped reactor

Wenzel, T.; Leibfried, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-424-43823-5
KITopen ID: 1000020388
Erschienen in Proceedings of the ICHVE 2008: 2008 International Conference on High Voltage Engineering and Application, Chongqing, China, November 9 - 13, 2008
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 265 - 268
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