Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2008 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-8007-3116-9 ISSN: 0341-3934 KITopen-ID: 1000020391 |
Erschienen in | Vortrag / Grenzflächen in elektrischen Isoliersystemen : Beanspruchungen, Design, Prüfverfahren, Lebensdauer; Vorträge der 3. ETG-Fachtagung vom 16. bis 17. September 2008 in Würzburg |
Verlag | VDE Verlag |
Seiten | 151 - 156 |
Serie | ETG-Fachbericht ; 112 |