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Breakdown testing of standard insulation materials with high frequency voltages for an assessment of stresses, generated by repetitive pulses

Nagel, M.; Otte, P.; Leibfried, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-424-42091-9
KITopen ID: 1000020398
Erschienen in Proceedings of the Conference record of the 2008 IEEE International Symposium on Electrical Insulation, Vancouver, BC, Canada, 9 - 12 June 2008
Verlag IEEE Service, Piscataway (NJ)
Seiten 466 - 469
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