| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-424-41621-9 KITopen-ID: 1000020401 |
| Erschienen in | Proceedings of the International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2008, Beijing, China, April 21 - 24, 2008 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1115 - 1118 |