Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2008 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-424-41621-9 KITopen-ID: 1000020401 |
Erschienen in | Proceedings of the International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2008, Beijing, China, April 21 - 24, 2008 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1115 - 1118 |