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Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen

Reiser, P.; Giselbrecht, D.; Garbe, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-2933-3
KITopen ID: 1000020438
Erschienen in Vortrag / Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2006: Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 7. - 9. März 2006, Messe Düsseldorf. Hrsg.: K.-H. Gonschorek
Verlag VDE-Verl., Berlin
Seiten 245 - 252
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