Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-8007-2933-3 KITopen-ID: 1000020438 |
| Erschienen in | Vortrag / Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2006: Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 7. - 9. März 2006, Messe Düsseldorf. Hrsg.: K.-H. Gonschorek |
| Verlag | VDE Verlag |
| Seiten | 245 - 252 |