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Trends in Dielectric Testing of HVDC Valves and Associated Equipment

Leibfried, T.; Hoferer, B.; Badent, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-7-302-01581-9
KITopen ID: 1000020440
Erschienen in Proceedings of the 14th International Symposium on High Voltage Engineering, ISH 2005, Beijing, China, August 25 - 28, 2005. Ed.: Z. Guan
Verlag Tsinghua Univ. Press, Beijing
Seiten 279
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