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Dielektrische Analyseverfahren: Algorithmen zur Überführung der Ergebnisse eines Verfahrens in andere Verfahren

Leibfried, T.; Stach, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-8007-2879-6
ISSN: 0341-3934
KITopen ID: 1000020445
Erschienen in Vortrag / Grenzflächen in elektrischen Isoliersystemen: Beanspruchungen, Design, Prüfverfahren, Lebensdauer; Vorträge der ETG-Fachtagung am 8. und 9. März 2005 in Hanau
Verlag VDE-Verl., Berlin
Seiten 159 - 164
Serie ETG-Fachbericht ; 99
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