Performance Verification of Symbol-Based OFDM Radar Processing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-424-45811-0 ISSN: 1097-5659 KITopen-ID: 1000020567 |
| Erschienen in | Proceedings of the IEEE Radar Conference, Arlington, Virginia, USA, 10 - 14 May 2010 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 60 - 63 |