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Performance Verification of Symbol-Based OFDM Radar Processing

Sturm, C.; Braun, M.; Zwick, T.; Wiesbeck, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-424-45811-0
ISSN: 1097-5659
KITopen-ID: 1000020567
Erschienen in Proceedings of the IEEE Radar Conference, Arlington, Virginia, USA, 10 - 14 May 2010
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 60 - 63
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