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Deflektometrische Methoden zur Sichtprüfung und 3D-Vermessung voll reflektierender Freiformflächen

Rapp, H.; Stiller, C.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000020266
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-578-9
urn:nbn:de:swb:90-207274
KITopen-ID: 1000020727
Erschienen in Forum Bildverarbeitung. Hrsg.: F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing
Seiten 217 - 228
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