Deflektometrische Methoden zur Sichtprüfung und 3D-Vermessung voll reflektierender Freiformflächen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-578-9 urn:nbn:de:swb:90-207274 KITopen-ID: 1000020727 |
| Erschienen in | Forum Bildverarbeitung. Hrsg.: F. Puente León |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 217 - 228 |
| Relationen in KITopen |