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Measurement of dielectric losses in amorphous thin films at gigahertz frequencies using superconducting resonators

Kaiser, C. 1; Skacel, S. T. 1; Wünsch, S. ORCID iD icon 1,2; Siegel, M. 1,2; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/23/7/075008
Web of Science
Zitationen: 13
Dimensions
Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048
KITopen-ID: 1000021032
Erschienen in Superconductor Science and Technology
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 23
Heft 7
Seiten 075008/1 - 6
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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