Measurement of dielectric losses in amorphous thin films at gigahertz frequencies using superconducting resonators
Kaiser, C. 1; Skacel, S. T. 1; Wünsch, S.
1,2; Siegel, M. 1,2; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Siegel, M. 1,2; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0953-2048 KITopen-ID: 1000021032 |
| Erschienen in | Superconductor Science and Technology |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 23 |
| Heft | 7 |
| Seiten | 075008/1 - 6 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions OpenAlex |