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Measurement of dielectric losses in amorphous thin films at gigahertz frequencies using superconducting resonators

Kaiser, C.; Skacel, S. T.; Wünsch, S.; Siegel, M.; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/23/7/075008
Web of Science
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048
KITopen-ID: 1000021032
Erschienen in Superconductor Science and Technology
Band 23
Heft 7
Seiten 075008/1 - 6
Nachgewiesen in Web of Science
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