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Thermal escape of fractional vortices in long Josephson junctions

Siegel, M. 1; Ilin, K. 1; Kienzle, U.; Gaber, T.; Buckenmaier, K.; Koelle, D.; Kleiner, R.; Goldobin, E.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.014504
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805
KITopen-ID: 1000021038
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 80
Heft 1
Seiten 014504/1 - 8
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