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Suppression of dissipation in Nb thin films with triangular antidot arrays by random removal of pinning sites

Siegel, M. 1; Ilin, K. 1; Kemmler, M.; Bothner, D.; Kleiner, R.; Koelle, D.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.79.184509
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805
KITopen-ID: 1000021039
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 79
Heft 18
Seiten 184509/1 - 6
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