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Fabrication of metallic structures with lateral dimensions less than 15 nm and j$_C$(T)-measurements in NbN micro- and nanobridges

Siegel, M. 1; Ilin, K.; Bartolf, H.; Engel, A.; Schilling, A.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.physc.2007.11.049
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Zitationen: 8
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534, 1873-2143
KITopen-ID: 1000021053
Erschienen in Physica / C
Verlag North-Holland Publishing
Band 468
Heft 7-10
Seiten 793 - 796
Nachgewiesen in Dimensions
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