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Fabrication of metallic structures with lateral dimensions less than 15 nm and jC(T)-measurements in NbN micro- and nanobridges

Siegel, M.; Ilin, K.; Bartolf, H.; Engel, A.; Schilling, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534
KITopen ID: 1000021053
Erschienen in Physica C: Superconductivity and its Applications
Band 468
Heft 7-10
Seiten 793 - 796
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