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Temperature- and field-dependence of critical currents in NbN microbridges

Siegel, M.; Ilin, K.; Engel, A.; Bartolf, H.; Schilling, A.; Semenov, A.; Hübers, H.-W.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/97/1/012152
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Zitationen: 8
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
KITopen-ID: 1000021054
Erschienen in Journal of physics / Conference series
Verlag IOP Publishing
Band 97
Seiten 012152/1 - 6
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