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Temperature- and field-dependence of critical currents in NbN microbridges

Siegel, M.; Ilin, K.; Engel, A.; Bartolf, H.; Schilling, A.; Semenov, A.; Hübers, H.-W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588
KITopen ID: 1000021054
Erschienen in Journal of Physics: Conference Series
Band 97
Seiten 012152/1 - 6
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