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Ultra-thin NbN films on Si: crystalline and superconducting properties

Siegel, M.; Ilin, K.; Schneider, R.; Gerthsen, D.; Engel, A.; Bartolf, H.; Schilling, A.; Semenov, A.; Hübers, H.-W.; Freitag, B.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/97/1/012045
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Zitationen: 27
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
KITopen-ID: 1000021055
Erschienen in Journal of physics / Conference series
Verlag IOP Publishing
Band 97
Seiten 012045/1 - 6
Nachgewiesen in Scopus
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