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Current-Induced Critical State in NbN Thin-Film Structures

Siegel, M.; Ilin, K.; Engel, A.; Bartolf, H.; Schilling, A.; Semenov, A.; Huebers, H.-W.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-007-9690-5
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Zitationen: 18
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Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000021103
Erschienen in Journal of low temperature physics
Verlag Springer
Band 151
Heft 1-2
Seiten 585 - 590
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