Current-Induced Critical State in NbN Thin-Film Structures
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2291, 1573-7357 KITopen-ID: 1000021103 |
| Erschienen in | Journal of low temperature physics |
| Verlag | Springer |
| Band | 151 |
| Heft | 1-2 |
| Seiten | 585 - 590 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |