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Current-Induced Critical State in NbN Thin-Film Structures

Siegel, M.; Ilin, K.; Engel, A.; Bartolf, H.; Schilling, A.; Semenov, A.; Huebers, H.-W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291
KITopen ID: 1000021103
Erschienen in Journal of Low Temperature Physics
Band 151
Heft 1-2
Seiten 585 - 590
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