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Dependence of magnetic penetration depth on the thickness of superconducting Nb thin films

Siegel, M.; Ilin, K. S.; Gubin, A. I.; Vitusevich, S. A.; Klein, N.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.72.064503
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Zitationen: 159
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Zitationen: 158
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000021122
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 72
Heft 6
Seiten 064503/1 - 8
Nachgewiesen in Web of Science
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