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Dependence of magnetic penetration depth on the thickness of superconducting Nb thin films

Siegel, M.; Ilin, K. S.; Gubin, A. I.; Vitusevich, S. A.; Klein, N.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000021122
Erschienen in Physical Review B
Band 72
Heft 6
Seiten 064503/1 - 8
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