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Critical current of Nb and NbN thin-film structures: The cross-section dependence

Siegel, M.; Ilin, K.; Semenov, A.; Engel, A.; Hübers, H.-W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1610-1634
KITopen ID: 1000021127
Erschienen in Physica Status Solidi (C)
Band 2
Heft 5
Seiten 1680 - 1687
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