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Critical current of Nb and NbN thin-film structures: The cross-section dependence

Siegel, M. 1; Ilin, K.; Semenov, A.; Engel, A.; Hübers, H.-W.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/pssc.200460811
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Zitationen: 22
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1610-1634, 1610-1642
KITopen-ID: 1000021127
Erschienen in Physica status solidi / C
Verlag John Wiley and Sons
Band 2
Heft 5
Seiten 1680 - 1687
Nachgewiesen in Dimensions
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