Use of Single-Crystal DAST as Electro-Optic Transducer in Electro-Optic Sampling Systems

Siegel, M.; Zheng, X.; Wu, S.; Sobolewski, R.; Adam, R.; Mikulics, M.; Förster, A.; Schelten, J.; Kordos, P.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2003
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 1-557-52738-5 ISSN: 1094-5695 KITopen-ID: 1000021149
Erschienen in	Proceedings / Ultrafast electronics and optoelectronics, January 14 - 16, 2003, postconference digest
Verlag	Optica Publishing Group (OSA)
Seiten	14 - 17
Serie	Trends in optics and photonics series ; 82