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Use of Single-Crystal DAST as Electro-Optic Transducer in Electro-Optic Sampling Systems

Siegel, M.; Zheng, X.; Wu, S.; Sobolewski, R.; Adam, R.; Mikulics, M.; Förster, A.; Schelten, J.; Kordos, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-557-52738-5
ISSN: 1094-5695
KITopen ID: 1000021149
Erschienen in Proceedings / Ultrafast electronics and optoelectronics, January 14 - 16, 2003, postconference digest
Verlag OSA, Washington (DC)
Seiten 14 - 17
Serie Trends in optics and photonics series ; 82
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