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HTS Multilayer Technology for Optimal Bit-Error Rate RSFQ Cells

Siegel, M.; Ilin, K. S.; Cassel, D.; Ortlepp, T.; Pickartz, G.; Kuhlmann, B.; Dittmann, R.; Toepfer, H.; Klushin, A. M.; Uhlmann, F. H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1051-8223
KITopen ID: 1000021150
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 13
Heft 2
Seiten 409 - 412
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