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Transport Properties of SINIS Junctions with High-Current Density

Siegel, M.; Ilin, K. S.; Born, F.; Cassel, D.; Klushin, A. M.; Brinkman, A.; Golubov, A. A.; Kupriyanov, M. Y.; Rogalla, H.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2003.814160
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1051-8223, 1558-2515
KITopen-ID: 1000021151
Erschienen in IEEE transactions on applied superconductivity
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 13
Heft 2
Seiten 1079 - 1084
Nachgewiesen in Web of Science
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