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Current distribution simulation for superconducting multi-layered structures

Siegel, M.; Khapaev, M. M.; Kupriyanov, M. Y.; Golubov, A. A.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/16/1/305
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048, 1361-6668
KITopen-ID: 1000021156
Erschienen in Superconductor science and technology
Band 16
Heft 1
Seiten 24 - 27
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