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Accurate Measurements of quantum voltage steps on arrays of bicrystal Josephson junctions

Siegel, M.; Klushin, A. M.; Behr, R.; Numssen, K.; Niemeyer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000021166
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 80
Heft 11
Seiten 1972 - 1974
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