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Failure mode and effect analysis based on electric and electronic architectures of vehicles to support the safety lifecycle ISO/DIS 26262

Mueller-Glaser, K. D.; Hillenbrand, M.; Heinz, M.; Adler, N.; Matheis, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7073-0
KITopen-ID: 1000021223
Erschienen in Proceedings of the 21st IEEE International Symposium on Rapid System Prototyping (RSP) 2010, Fairfax, VA, USA, June 8-11, 2010
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 7 S.
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