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Scenario extraction for a refined timing-analysis of automotive network topologies

Becker, J.; Traub, M.; Streichert, T.; Krasovytskyy, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-424-47054-9
KITopen-ID: 1000021226
Erschienen in Proceedings of the 2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2010, Dresden, Germany, 8 - 12 March 2010
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 81 - 86
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