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Reliability Analysis and Improvement in Nano Scale Design

Becker, J.; Huebner, M.; Niknahad, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7321-2
KITopen ID: 1000021232
Erschienen in Proceedings of the IEEE Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2010, Lixouri, Kefalonia, Greece, 5-7 July 2010
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 299 - 303
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