Reliability Analysis and Improvement in Nano Scale Design
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-7321-2 KITopen-ID: 1000021232 |
| Erschienen in | Proceedings of the IEEE Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2010, Lixouri, Kefalonia, Greece, 5-7 July 2010 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 299 - 303 |