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Method to measure the inner electrical values of a DBD including space charge field

Heering, W.; Trampert, K.; Paravia, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-424-41929-6
KITopen ID: 1000021388
Erschienen in Proceedings of the IEEE 35th International Conference on Plasma Science, 2008, ICOPS 2008, 15 - 19 June 2008, Karlsruhe, Germany, abstracts
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1 S.
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