Spatially resolved optical characterization of photonic crystal slabs using direct evaluation of photonic modes
Lemmer, U.
; Nazirizadeh, Y.; Geyer, U.; Gerken, M.
; Nazirizadeh, Y.; Geyer, U.; Gerken, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-424-41917-3 KITopen-ID: 1000021392 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2008 IEEE/LEOS International Conference on Optical MEMS and Nanophotonics, Freiburg, Germany, 11 - 14 August 2008 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 112 - 113 |