Numerical simulation tool for synthetic speckle pattern images and their intensity-based integration under variable conditions for metrology applications
Lemmer, U.
; Riechert, F.; Bastian, G.
; Riechert, F.; Bastian, G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-8194-6759-1 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000021404 |
| Erschienen in | Proceedings / Modeling aspects in optical metrology, 18 - 19 June 2007, Munich, Germany. Ed.: H. Bosse |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Serie | Proceedings / SPIE ; 6617 |