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Depth tracing the influence of oxygen on UV curing

Pieke, S.; Heering, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-6758-4
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000021407
Erschienen in Proceedings / Optical measurement systems for industrial inspection V, 18 - 22 June 2007, Munich, Germany. Ed.: W. Osten
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten 66163X/1 - 9
Serie Proceedings of SPIE ; 6616
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