Total spectral radiant flux measurements on Xe excimer lamps from 115 nm to 1000 nm
Trampert, K.
; Paravia, M.; Daub, R.; Heering, W.
; Paravia, M.; Daub, R.; Heering, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-8194-6758-4 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000021419 |
| Erschienen in | Proceedings / Optical measurement systems for industrial inspection V, 18 - 22 June 2007, Munich, Germany. Ed.: W. Osten |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 661647/1 - 9 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 6616 |