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Optical Coherence Tomography for the Assessment of Paper Quality

Butzbach, M.; Malz, A.; Stork, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000021580
Erschienen in Optical Sensors, Karlsruhe, Germany, June 21, 2010
Verlag Optical Society of America, Washington (DC)
Seiten paper SWD4/1 - 2
Serie OSA Technical Digest (CD)
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