Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 0171-8096 KITopen-ID: 1000022013 |
| Erschienen in | tm - Technisches Messen |
| Verlag | De Gruyter |
| Band | 75 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 288 - 297 |