Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik

Fleischer, J.; Buchholz, I.; Viering, B.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2008
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISSN: 0171-8096 KITopen-ID: 1000022013
Erschienen in	tm - Technisches Messen
Verlag	De Gruyter
Band	75
Heft	5
Seiten	288 - 297

Seitenaufrufe: 69
seit 20.05.2018