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Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik

Fleischer, J.; Buchholz, I.; Viering, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000022013
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 75
Heft 5
Seiten 288 - 297
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