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Characterisation and Testing of Microspecimen

Beck, T.; Schneider, J.; Schulze, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0946-7076
KITopen ID: 1000022189
Erschienen in Microsystem Technologies
Band 10
Heft 3
Seiten 227 - 232
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