Characterisation and Testing of Microspecimen
Beck, T.; Schneider, J.
; Schulze, V.
; Schulze, V.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0946-7076 KITopen-ID: 1000022189 |
| Erschienen in | Microsystem Technologies |
| Verlag | Springer |
| Band | 10 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 227 - 232 |