Combining Low-Level Segmentation with Relational Classification
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-4442-7 KITopen-ID: 1000022308 |
| Erschienen in | 12th International Conference Computer Vision Workshops (ICCV Workshops), Kyoto, Japan, 27 September - 4 October 2009 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1216 - 1221 |