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Bayesian Techniques for Onboard Train Localization

Hasberg, Carsten; Hensel, Stefan



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-2709-3
KITopen-ID: 1000022315
Erschienen in Proceedings of the 2009 IEEE/SP 15th Workshop on Statistical Signal Processing (SSP 2009), Cardiff, United Kingdom, 31 August - 3 September 2009
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 361 - 364
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