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Bayesian Mapping with Probabilistic Cubic Splines

Hasberg, Carsten; Hensel, Stefan



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7875-0
KITopen-ID: 1000022385
Erschienen in Proceedings of the 2010 IEEE International Workshop on Machine Learning for Signal Processing (MLSP), Kittilä, Finland, August 29 - September 1, 2010
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 367 - 372
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