Bayesian Mapping with Probabilistic Cubic Splines
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-7875-0 KITopen-ID: 1000022385 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2010 IEEE International Workshop on Machine Learning for Signal Processing (MLSP), Kittilä, Finland, August 29 - September 1, 2010 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 367 - 372 |