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Raman spectroscopy for experimental investigation of microscale selective microwave heating

Link, G.; Thumm, M.; Faubel, W.; Heissler, St.; Weidler, P.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-87339-756-8
KITopen-ID: 1000022696
HGF-Programm 43.13.02 (POF II, LK 01)
Erschienen in Conference proceedings of the Materials Science & Technology 2010 Conference & Exhibition (MS&T'10), Houston, TX USA, October 17-21, 2010; 1 CD-Rom
Verlag Metals & Materials Society, Warrendale (PA)
Seiten 2936-2944
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