Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4244-5155-5 KITopen-ID: 1000022702 |
Erschienen in | Proceedings of the 2009 IEEE International Symposium on Workload Characterization, Austin, TX, USA, October 4-6 2009 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 493 - 496 |