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Fidelity Criterion for UWB Medical Diagnostic

Pancera, E.; Li, X.; Zwick, T.; Wiesbeck, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-5305-4
KITopen-ID: 1000022704
Erschienen in Proceedings of the IEEE International Conference on Ultra-Wideband (ICUWB 2010), Nanjing, China, 20 - 23 Sept. 2010. Ed.: W. Hong
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 4 S.
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