| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1097-0002 KITopen-ID: 1000023296 |
| Erschienen in | Proceedings of the 57th annual conference on applications of X-ray analysis (Denver X-ray conference) and the 8th International conference on residual stresses (ICRS-8), Denver, Colorado, USA, 4 - 8 August 2008; 1 CD-Rom. Ed.: T. Blanton |
| Verlag | International Centre for Diffraction Data |
| Seiten | 608 - 615 |
| Serie | Advances in x ray analysis ; 52 |