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Experimentelle und numerische Untersuchung von Größeneffekten bei der Skalierung des Mikrozerspanprozesses

Autenrieth, H.; Delonnoy, L.; Weber, M.; Hochrainer, T.; Deuchert, M.; Kotschenreuther, J.; Schulze, V.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-933762-29-0
KITopen-ID: 1000023302
Erschienen in Größeneinflüsse bei Fertigungsprozessen: Beiträge zum Abschlusskolloquium des SSP 1138, Bonn, 11. - 12. Februar 2009. Hrsg.: F. Vollertsen
Verlag BIAS, Bremen
Seiten 415-467
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