Spatially resolved strain measurements on micro moulds
Kienzler, A.; Okolo, B.; Schulze, V.; Wanner, A.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1097-0002 KITopen-ID: 1000023332 |
| Erschienen in | Proceedings of the Denver X-ray Conference, Denver, Colorado, USA, 4 - 8 August 2008; 1 CD-Rom. Ed.: Th. Blanton |
| Verlag | Internat. Centre for Diffraction Data |
| Seiten | 437-443 |
| Serie | Advances in X-ray analysis ; 52 |