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Spatially resolved strain measurements on micro moulds

Kienzler, A.; Okolo, B.; Schulze, V.; Wanner, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1097-0002
KITopen-ID: 1000023332
Erschienen in Proceedings of the Denver X-ray Conference, Denver, Colorado, USA, 4 - 8 August 2008; 1 CD-Rom. Ed.: Th. Blanton
Verlag Internat. Centre for Diffraction Data, Newton Square (PA)
Seiten 437-443
Serie Advances in X-ray analysis ; 52
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