Charakterisierung und Prüfung von Mikrobauteilen
Rögner, J.; Okolo, B.; Schneider, J.
; Lang, K.-H.; Wanner, A.
; Schulze, V.
; Lang, K.-H.; Wanner, A.
; Schulze, V.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-933762-32-0 KITopen-ID: 1000023337 |
| Erschienen in | 4. Kolloquium Mikroproduktion - Beiträge der vier SFB der Mikrotechnik, Bremen, 28. - 29. Oktober 2009. Hrsg.: F. Vollertsen |
| Verlag | BIAS |
| Seiten | 105-110 |