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Charakterisierung und Prüfung von Mikrobauteilen

Rögner, J.; Okolo, B.; Schneider, J.; Lang, K.-H.; Wanner, A.; Schulze, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-933762-32-0
KITopen-ID: 1000023337
Erschienen in 4. Kolloquium Mikroproduktion - Beiträge der vier SFB der Mikrotechnik, Bremen, 28. - 29. Oktober 2009. Hrsg.: F. Vollertsen
Verlag BIAS, Bremen
Seiten 105-110
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